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冷熱沖擊試驗(yàn)箱是利用低溫及高溫蓄冷熱槽，依動(dòng)作需要，用氣缸閥門切換冷熱空氣,從而達(dá)到快速溫度沖擊效果,平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC）+ 特殊設(shè)計(jì)之送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定的使用。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子産品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

砂塵試驗(yàn)箱用于低壓電器、通訊、電機(jī)、儀表、燈具、家用電器等產(chǎn)品，在儲存、運(yùn)輸和使用過程中往往會(huì)受到砂塵環(huán)境的影響。尤其是汽車、電器受砂塵的影響更為顯著。本設(shè)備就是采用人工模擬砂塵環(huán)境，來檢驗(yàn)產(chǎn)品對防塵能力的試驗(yàn)設(shè)備，滿足IP防護(hù)等級IP5X的試驗(yàn)要求。

1、 符合GB/T3836.1-2021《爆炸性環(huán)境 第 1 部分：設(shè)備 通用要求》中耐熱試驗(yàn)、耐寒試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求； 2、 符合GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法》試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)要求； 3、 符合GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法》試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)要求；

滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.2-2008、GB/T 5169.21-2017測試要求。用于測試電工電子產(chǎn)品經(jīng)受連續(xù)高溫環(huán)境下的耐受程度，適合于IT通訊、醫(yī)療器械、汽車電子、燈具、電子芯片、建材、機(jī)械等產(chǎn)品物理變化的測試。 采用先進(jìn)的激光、數(shù)控加工設(shè)備生產(chǎn)的產(chǎn)品；供工礦企業(yè)、化驗(yàn)室、科研單位作干燥、烘焙熔蠟、滅菌用。

滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2016、GB/T 2423.4-2008測試要求。用于測試電工電子產(chǎn)品經(jīng)受高溫、低溫及濕熱環(huán)境的連續(xù)環(huán)境下的耐受程度，測試其在高溫、低溫及濕熱環(huán)境下的化學(xué)變化或物理傷害，適合于 IT通訊、醫(yī)療器械、汽車電子、燈具、電子芯片、建材、機(jī)械等產(chǎn)品物理變化的測試。

滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC 60068-2-14:2023、GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2016、GB/T 2423.4-2008測試要求。用于測試電工電子產(chǎn)品經(jīng)受快速高溫或低溫變化的連續(xù)環(huán)境下的耐受程度，以在最短時(shí)間內(nèi)測試其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，適合于 IT通訊、醫(yī)療器械、汽車電子、燈具、電子芯片、建材、機(jī)械等產(chǎn)品物理變化的測試。

滿足 GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2016、GB/T 2423.4-2008測試要求。用于測試電工電子產(chǎn)品經(jīng)受高溫、低溫及濕熱環(huán)境的連續(xù)環(huán)境下的耐受程度，測試在相應(yīng)環(huán)境條件下引起的化學(xué)變化或物理傷害，適合于 IT通訊、醫(yī)療器械、汽車電子、燈具、電子芯片、建材、機(jī)械等產(chǎn)品物理變化的測試。

本試驗(yàn)箱用于低壓電器、通訊、電機(jī)、儀表、燈具、家用電器等產(chǎn)品，在儲存、運(yùn)輸和使用過程中往往會(huì)受到砂塵環(huán)境的影響。尤其是汽車、電器受砂塵的影響更為顯著。本設(shè)備就是采用人工模擬砂塵環(huán)境，來檢驗(yàn)產(chǎn)品對防塵能力的試驗(yàn)設(shè)備，滿足IP防護(hù)等級IP6X的試驗(yàn)要求。